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高性能高純鍺（HPGe）平面輻射探測(cè)器，用于安全保障和非破壞性分析

專門(mén)設(shè)計(jì)用于滿足安全保障和NDA中所使用同位素比率軟件代碼的苛刻要求

更新時(shí)間：2025-07-25

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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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高性能高純鍺（HPGe）同軸輻射探測(cè)器，用于安全保障和非破壞性分析

專門(mén)設(shè)計(jì)用于滿足安全保障和NDA中所使用同位素比率軟件代碼的苛刻要求

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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GLP系列平面HPGe低能輻射探測(cè)器

在3至300keV范圍內(nèi)具有出色的能量分辨率有效面積從30到1000mm2不等 PopTop的靈活性的定時(shí)性能可提供直徑大于36毫米的探測(cè)器可配備特殊反饋電阻

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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GWL（井）P型同軸輻射探測(cè)器

ORTECGWL系列高純鍺（HPGe）井型探測(cè)器是小樣品低水平計(jì)數(shù)的理想解決方案

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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Gamma-X（GMX）N型高純鍺（HPGe）同軸輻射探測(cè)器

GAMMA-XN型同軸HPGe探測(cè)器適用于能量范圍為~3keV及以上的高性能伽馬能譜測(cè)量

更新時(shí)間：2025-07-25

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PROFILE GEM P型同軸和平面HPGe輻射探測(cè)器

ORTECPROFILE系列P型高純鍺（HPGe）探測(cè)器可根據(jù)您的應(yīng)用匹配晶體尺寸，從而提供的計(jì)數(shù)幾何形狀和結(jié)果

更新時(shí)間：2025-07-25

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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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GEM P型同軸高純鍺（HPGe）輻射探測(cè)器

ORTECGEM輻射探測(cè)器是一款P型同軸HPGe探測(cè)器，適用于~40keV及以上典型能量范圍的能譜測(cè)量

更新時(shí)間：2025-07-25

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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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HPGe輻射探測(cè)器類型和如何進(jìn)行選擇

高純鍺（HPGe）輻射探測(cè)器的分類ORTEC提供各種HPGe輻射探測(cè)器解決方案，涵蓋了幾百電子伏特（eV）范圍內(nèi)的X射線能量以及10MeV及以上范圍內(nèi)的伽馬射線能量

更新時(shí)間：2025-07-25

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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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高純鍺（HPGe）輻射探測(cè)器

基于半導(dǎo)體的輻射探測(cè)器已經(jīng)有半個(gè)多世紀(jì)的歷史，ORTEC在這期間起到了先鋒帶頭作用

更新時(shí)間：2025-07-25

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